성심산학협력단

 

연구정보

연구자현황

장재연(JaeyeonJang) 프로필 이미지 학과장

장재연 조교수

JaeyeonJang

연구분야

데이터 사이언스

연구키워드

산업 데이터 분석

교수소개


						
장재연 교수는 2021년 연세대학교에서 산업공학 박사학위를 취득하였으며, 2021년부터 2022년까지 미국 노스웨스턴 대학교 산업공학과에서 박사후 연구원으로 재직하였다. 이 기간 동안 장재연교수는 인텔과 협력하여 다중 에이전트 심층 강화 학습을 사용한 대규모 팹 스케줄러 개발을 목표로 하는 프로젝트에 주도적으로 참여하였다. 2022년에는 가톨릭대학교 데이터 사이언스 학과의 조교수로 임명되었다. 장재연 교수는 현재 산업 데이터 분석, 딥러닝, 머신러닝, 그리고 강화학습 관련 왕성한 연구활동을 진행중에 있으며, 가톨릭대학교 산업인공지능 연구실을 이끌며 학생들과 다양한 연구를 진행중에 있다.
Jaeyeon Jang earned his Ph.D. in industrial engineering from Yonsei University, South Korea, in 2021. From 2021 to 2022, he served as a Postdoctoral Scholar in the Department of Industrial Engineering and Management Sciences at Northwestern University, Evanston, IL, USA. During this period, he was part of a collaborative project with Intel, aimed at developing a large-scale fab scheduler using multi-agent deep reinforcement learning. In 2022, he was appointed as an Assistant Professor in the Department of Data Science at the Catholic University of Korea. His research currently focuses on industrial data analytics, deep learning, machine learning, and reinforcement learning.

최종학력

2021.02.22 | 연세대학교 | 산업공학과 | 공학박사

연구실적

  • 2024.09 | 단독 | PATTERN RECOGNITION, 제153권
    Synthetic unknown class learning for learning unknowns
  • 2024.02 | 교신저자 | EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS, 제236권
    A two-stage semi-supervised object detection method for SAR images with missing labels based on meta pseudo-labels
  • 2023.12 | 제1저자 | IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORKS AND LEARNING SYSTEMS, 제0권 0호, pp.1-14
    Teacher–Explorer–Student Learning: A Novel Learning Method for Open Set Recognition
  • 2023.10 | 교신저자 | APPLIED SOFT COMPUTING JOURNAL, 제146권
    Real-time path planning of controllable UAV by subgoals using goal-conditioned reinforcement learning
  • 2023.09 | 공동저자 | DRONES, 제7권 9호
    Stepwise Soft Actor–Critic for UAV Autonomous Flight Control
  • 2023.08 | 공동저자 | EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS, 제224권
    A test vector selection method based on machine learning for efficient presilicon verification
  • 2023.04 | 제1저자 | EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS, 제215권
    Decision fusion approach for detecting unknown wafer bin map patterns based on a deep multitask learning model
  • 2023.04 | 단독 | SOFT COMPUTING, 제27권 7호, pp.3641-3654
    A deep learning-based conditional system health index method to reduce the uncertainty of remaining useful life prediction
  • 2023.02 | 교신저자 | IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 제36권 1호, pp.37-44
    Sequential Residual Learning for Multistep Processes in Semiconductor Manufacturing
  • 2022.08 | 제1저자 | IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 제18권 8호, pp.5264-5274
    Siamese Network-Based Health Representation Learning and Robust Reference-Based Remaining Useful Life Prediction
  • 2022.07 | 제1저자 | IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORKS AND LEARNING SYSTEMS
    Collective Decision of One-vs-Rest Networks for Open-Set Recognition
  • 2022.02 | 제1저자 | EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS, 제188권
    Unstructured borderline self-organizing map: Learning highly imbalanced, high-dimensional datasets for fault detection
  • 2021.12 | 공동저자 | JOURNAL OF INTELLIGENT MANUFACTURING, 제32권 8호, pp.2267-2280
    A run-to-run controller for a chemical mechanical planarization process using least squares generative adversarial networks
  • 2021.01 | 공동저자 | JOURNAL OF INTELLIGENT MANUFACTURING, 제32권 1호, pp.251-263
    Discriminative feature learning and cluster-based defect label reconstruction for reducing uncertainty in wafer bin map labels
  • 2020.11 | 제1저자 | IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 제33권 4호, pp.635-643
    Support Weighted Ensemble Model for Open Set Recognition of Wafer Map Defects
  • 2020.04 | 제1저자 | COMPUTERS AND INDUSTRIAL ENGINEERING, 제142권
    Aggregate production planning considering implementation error: A robust optimization approach using bi-level particle swarm optimization
  • 2019.08 | 제1저자 | IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 제32권 3호, pp.293-301
    Denoised Residual Trace Analysis for Monitoring Semiconductor Process Faults
  • 2019.04 | 제1저자 | IEEE ACCESS, 제7권, pp.72210-72220
    Adaptive Weapon-to-Target Assignment Model Based on the Real-Time Prediction of Hit Probability
  • 2019.03 | 공동저자 | JOURNAL OF INTELLIGENT MANUFACTURING, 제30권 3호, pp.1047-1055
    Automatic inspection of salt-and-pepper defects in OLED panels using image processing and control chart techniques
  • 2018.06 | 공동저자 | 한국시뮬레이션학회 논문지, 제27권 2호, pp.35-48
    유도탄의 실시간 표적 재지정을 위한 랜덤 포레스트 기법과 시뮬레이션 기반 효과 분석
  • 2017.11 | 공동저자 | JOURNAL OF CLEANER PRODUCTION, 제165권, pp.552-563
    A dynamic control approach for energy-efficient production scheduling on a single machine under time-varying electricity pricing
  • 2019.08.09 | 주발명자 | 연세대학교 산학협력단
    반도체 제조 공정에서 고장 검출 및 불량 원인 진단을 위한 방법
  • 2023.01.19 | 주발명자 | (주)코드블라썸
    '간병인과 환자 간 매칭 정보를 추론하는 간병인 환자 매칭 모델의 학습 방법 및 간병인 환자 매칭 모델을 이용한 간병인 환자 매칭 방법'의 기술이전